顯微鏡市場調查

① 請問各位研究細胞的有沒有人用國產的倒置顯微鏡呀，都有哪些牌子、型號的，性能和質量怎樣啊急急急！！

其實現在國產顯微鏡在性能與質量方面已經很成熟了,如果不是用作很高難度的科學研究,國產倒置顯微鏡完全可以應付得過來了。

當然,如果真要分個高低,目前進口顯微鏡在光學方面還是比國產的領先一點。

國產顯微鏡幾家大一點名氣的供應商大概有廣州明美、重慶光學、邁特、桂光、上海光學等，至於進口的則是有奧林巴斯、尼康等等。

至少產品性能與產品方面，別人說好，你可能也不完全相信，重要的是你可以通過一些實拍圖片效果去了解供應商產品的質量與性能。還有一方面就是最重要的要看商家的服務方面，能否在技術方面給你很大的支持，能否給你們提供顯微解決方案及技術培訓等等。

下面，我貼一些實拍圖片出來讓你看看吧：（我們圖片都是防止別人盜用才加上公司logo的，我希望你不要一看到這些公司信息就反感到我是在賣廣告，哈。）

② 隨著顯微鏡的不斷改進和科學家的長期研究,人們終於發現了什麼

（生物體基本上都是由細胞組成）

小學科學題。注意「基本」兩個字不能漏下。因為病毒不是由細胞構成的

③ 菌的菌類食物市場

菌類主題餐廳面市以來一直持續火爆，風行餐飲界，不斷掀起消費熱潮，這與其獨特鮮美味道和營養健康產品特性是分不開的，這也是其它食材所不能替代的，而在具體經營上，吃野生菌一般採用煮、蒸、燉、炒、煎等法，不過，時下最適宜的製法就是用其燉各種湯，菌類食材做成湯鍋，這樣既可以避免某些野生菌中毒，又保持了菌的鮮香美味，同時也使得菌類營養物質徹底滲出。而且在製作湯鍋時，菌類與其它食材一同烹煮，使味道更加鮮美、營養更加豐富的同時，也創造出了一個個新產品，如棒子骨大補菌湯、烏雞滋養菌湯、野菌牛腩湯等，在食用過程中還可隨意在湯鍋里燙食其它食材鮮蔬，食用過程氣氛熱烈，深受消費者喜愛。
野菌湯鍋健康營養，近年來更是大受歡迎，以前多藏身於賓館酒店，而現在則更多服務於大眾百姓，風靡全國各地。野菌湯鍋健康味美，食材豐富，若在此基礎上再選用砂鍋做為盛皿，則更顯特色和更有營養。
根據市場調查和國人飲食習慣分析，菌湯不僅是在成都，而是在全國各地均有著巨大的市場，其產品符合於餐飲流行的潮流，營養、健康、綠色將是餐飲發展永恆的主題，而各種野生菌恰好是這一主題的最好詮釋。另處，菌湯鍋底是白味的鮮香醇厚，除了菌類外還幾乎可煮食任何食材，配多種口味的味碟，這種靈活和包容，更使菌湯適合於全國口味，老少皆宜。這也說明菌湯這一特色餐飲項目的市場基礎和空間是巨大的。 細菌在生物圈中數量最多，分布非常廣泛，占土壤微生物總量的70%~90%。除了土壤，在水裡、空氣中以及人、動物和植物的體內外，也都有數不清的細菌。
細菌的個體十分微小，直徑一般只有1微米左右，大約1000個細菌排成一排，才有1mm長，約10億個細菌堆積起來，才有一顆小米粒那麼大。只有用高倍顯微鏡或電子顯微鏡才能觀察到細菌的形態和結構。
人們用高倍顯微鏡可觀察到細菌有三種形態：球形、桿形和螺旋形。
細菌是單細胞個體，細胞由細胞壁、細胞膜、細胞質等部分組成，細胞內沒有成形的細胞核，是生物中的原始類型。有的細菌長有鞭毛，藉助鞭毛擺動而在水中游動。
細菌一般沒有葉綠體，大多數細菌只能利用現成的有機物生活，並把有機物分解成簡單的無機物。細菌進行分裂繁殖，繁殖的速度非常快，條件適宜時，通常只要20~30min就能繁殖一代。 放線菌的種類很多，在自然界分布很廣，主要生活在土壤里。
放線菌是一種具放射狀分枝的絲狀體。由於菌絲內沒有橫隔，也沒有成形的細胞核，所以一般認為放線菌是一種特殊的細菌。
放線菌的菌絲分為營養菌絲、氣生菌絲和孢子絲。營養菌絲生長在營養物質內，吸收其中的營養。氣生菌絲生長在空氣中。當放線菌生長發育到一定階段，氣生菌絲的頂端形成孢子絲。孢子絲生長到一定階段就產生孢子。孢子在適宜的條件下萌發，形成新的菌絲體。

④ JEM 2010 主要附件： 能量散射X射線分析系統（EDS），Oxford，INCA ，1K*1K，GatanCCD 主要技術指標： 點

子顯微鏡的現狀與展望

摘要: 本文扼要介紹了電子顯微鏡的現狀與展望。透射電子顯微鏡方面主要有：高分辨電子顯微學及原子像的觀察，像差校正電子顯微鏡，原子尺度電子全息學，表面的高分辨電子顯微正面成像，超高壓電子顯微鏡，中等電壓電鏡，120kV,100kV分析電鏡，場發射槍掃描透射電鏡及能量選擇電鏡等，透射電鏡將又一次面臨新的重大突破；掃描電子顯微鏡方面主要有：分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長／缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和計算機控制掃描電鏡等。掃描電鏡的分辨本領可望達到0.2—0.3nm並觀察到原子像。
關鍵詞：透射電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡 儀器製造與發展

電子顯微鏡(簡稱電鏡，EM)經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。我國的電子顯微學也有了長足的進展。電子顯微鏡的創制者魯斯卡(E.Ruska)教授因而獲得了1986年諾貝爾獎的物理獎。
電子與物質相互作用會產生透射電子，彈性散射電子，能量損失電子，二次電子，背反射電子，吸收電子，X射線，俄歇電子，陰極發光和電動力等等。電子顯微鏡就是利用這些信息來對試樣進行形貌觀察、成分分析和結構測定的。電子顯微鏡有很多類型，主要有透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡，TEM)和掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡，SEM)兩大類。掃描透射電子顯微鏡(簡稱掃描透射電鏡，STEM)則兼有兩者的性能。為了進一步表徵儀器的特點，有以加速電壓區分的，如：超高壓(1MV)和中等電壓(200—500kV)透射電鏡、低電壓(～1kV)掃描電鏡；有以電子槍類型區分的，如場發射槍電鏡；有以用途區分的，如高分辨電鏡，分析電鏡、能量選擇電鏡、生物電鏡、環境電鏡、原位電鏡、測長CD-掃描電鏡；有以激發的信息命名的，如電子探針X射線微區分析儀(簡稱電子探針，EPMA)等。
半個多世紀以來電子顯微學的奮斗目標主要是力求觀察更微小的物體結構、更細小的實體、甚至單個原子，並獲得有關試樣的更多的信息，如標征非晶和微晶，成分分布，晶粒形狀和尺寸，晶體的相、晶體的取向、晶界和晶體缺陷等特徵，以便對材料的顯微結構進行綜合分析及標征研究〔3〕。近來，電子顯微鏡(電子顯微學)，包括掃描隧道顯微鏡等，又有了長足的發展。本文僅討論使用廣泛的透射電鏡和掃描電鏡，並就上列幾個方面作一簡要介紹。部分透射電鏡和掃描電鏡的主要性能可參閱文獻。
透射電子顯微鏡
1、高分辨電子顯微學及原子像的觀察
材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關。觀察試樣中單個原子像是科學界長期追求的目標。一個原子的直徑約為1千萬分之2—3mm。因此，要分辨出每個原子的位置需要0.1nm左右的分辨本領，並把它放大約1千萬倍。70年代初形成的高分辨電子顯微學(HREM)是在原子尺度上直接觀察分析物質微觀結構的學科。計算機圖像處理的引入使其進一步向超高解析度和定量化方向發展，同時也開辟了一些嶄新的應用領域。例如，英國醫學研究委員會分子生物實驗室的A.Klug博士等發展了一套重構物體三維結構的高分辨圖像處理技術，為分子生物學開拓了一個嶄新的領域。因而獲得了1982年諾貝爾獎的化學獎，以表彰他在發展晶體電子顯微學及核酸—蛋白質復合體的晶體學結構方面的卓越貢獻。
用HREM使單個原子成像的一個嚴重困難是信號／雜訊比太小。電子經過試樣後，對成像有貢獻的彈性散射電子(不損失能量、只改變運動方向)所佔的百分比太低，而非彈性散射電子(既損失能量又改變運動方向)不相干，對成像無貢獻且形成亮的背底(亮場)，因而非周期結構試樣中的單個原子像的反差極小。在檔去了未散射的直透電子的暗場像中，由於提高了反差，才能觀察到其中的重原子，例如鈾和釷—BTCA中的鈾(Z＝92)和釷(Z＝90)原子。對於晶體試樣，原子陣列會加強成像信息。採用超高壓電子顯微鏡和中等加速電壓的高亮度、高相干度的場發射電子槍透射電鏡在特定的離焦條件(Scherzer欠焦)下拍攝的薄晶體高分辨像可以獲得直接與晶體原子結構相對應的結構像。再用圖像處理技術，例如電子晶體學處理方法，已能從一張200kV的JEM-2010F場發射電鏡(點分辨本領0.194nm)拍攝的解析度約0.2nm的照片上獲取超高解析度結構信息，成功地測定出解析度約0.1nm的晶體結構。
2.像差校正電子顯微鏡
電子顯微鏡的分辨本領由於受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對於常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恆為正值。在40年代由於兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像差是人們長期追求的目標。經過50多年的努力，1990年Rose提出用六極校正器校正透鏡像差得到無像差電子光學系統的方法。最近在CM200ST場發射槍200kV透射電鏡上增加了這種六極校正器，研製成世界上第一台像差校正電子顯微鏡。電鏡的高度僅提高了24cm，而並不影響其它性能。分辨本領由0.24nm提高到0.14nm。在這台像差校正電子顯微鏡上球差系數減少至0.05mm(50μm)時拍攝到了GaAs〈110〉取向的啞鈴狀結構像，點間距為0.14nm。
3、原子尺度電子全息學
Gabor在1948年當時難以校正電子透鏡球差的情況下提出了電子全息的基本原理和方法。論證了如果用電子束製作全息圖，記錄電子波的振幅和位相，然後用光波進行重現，只要光線光學的像差精確地與電子光學的像差相匹配，就能得到無像差的、解析度更高的像。由於那時沒有相乾性很好的電子源，電子全息術的發展相當緩慢。後來，這種光波全息思想應用到激光領域，獲得了極大的成功。Gabor也因此而獲得了諾貝爾物理獎。隨著Mollenstedt靜電雙棱鏡的發明以及點狀燈絲，特別是場發射電子槍的發展，電子全息的理論和實驗研究也有了很大的進展，在電磁場測量和高分辨電子顯微像的重構等方面取得了豐碩的成果〔9〕。Lichte等用電子全息術在CM30
FEG/ST型電子顯微鏡(球差系數Cs＝1.2mm)上以1k×1k的慢掃描CCD相機，獲得了0.13nm的分辨本領。目前，使用剛剛安裝好的CM30
FEG/UT型電子顯微鏡(球差系數Cs＝0.65mm)和2k×2k的CCD相機，已達到0.1nm的信息極限分辨本領。
4、表面的高分辨電子顯微正面成像
如何區分表面和體點陣周期從而得到試樣的表面信息是電子顯微學界一個長期關心的問題。目前表面的高分辨電子顯微正面成像及其圖像處理已得到了長足的進展，成功地揭示了Si〔111〕表面(7×7)重構的細節，不僅看到了掃描隧道顯微鏡STM能夠看到的處於表面第一層的吸附原子(adatoms)，而且看到了頂部三層的所有原子，包括STM目前還難以看到的處於第三層的二聚物(dimers)，說明正面成像法與目前認為最強有力的，在原子水平上直接觀察表面結構的STM相比，也有其獨到之處。李日升等以Cu〔110〕晶膜表面上觀察到了由Cu-O原子鏈的吸附產生的(2×1)重構為例，採用表面的高分辨電子顯微正面成像法，表明對於所有的強周期體系，均存在襯度隨厚度呈周期性變化的現象，對一般厚膜也可進行高分辨表面正面像的觀測。
5、超高壓電子顯微鏡
近年來，超高壓透射電鏡的分辨本領有了進一步的提高。JEOL公司製成1250kV的JEM-ARM
1250／1000型超高壓原子解析度電鏡，點分辨本領已達0.1nm，可以在原子水平上直接觀察厚試樣的三維結構。日立公司於1995年製成一台新的3MV超高壓透射電鏡，分辨本領為0.14nm。超高壓電鏡分辨本領高、對試樣的穿透能力強(1MV時約為100kV的3倍)，但價格昂貴，需要專門建造高大的實驗室，很難推廣。
6、中等電壓電子顯微鏡
中等電壓200kV\,300kV電鏡的穿透能力分別為100kV的1.6和2.2倍，成本較低、效益／投入比高，因而得到了很大的發展。場發射透射電鏡已日益成熟。TEM上常配有鋰漂移硅Si(Li)X射線能譜儀(EDS)，有的還配有電子能量選擇成像譜儀，可以分析試樣的化學成分和結構。原來的高分辨和分析型兩類電鏡也有合並的趨勢：用計算機控制甚至完全通過計算機軟體操作，採用球差系數更小的物鏡和場發射電子槍，既可以獲得高分辨像又可進行納米尺度的微區化學成分和結構分析，發展成多功能高分辨分析電鏡。JEOL的200kV
JEM-2010F和300kV JEM-3000F，日立公司的200kV HF-2000以及荷蘭飛利浦公司的200kV CM200 FEG和300kV CM300 FEG型都屬於這種產品。目前，國際上常規200kVTEM的點分辨本領為0.2nm左右，放大倍數約為50倍—150萬倍。
7、120kV\,100kV分析電子顯微鏡
生物、醫學以及農業、葯物和食品工業等領域往往要求把電鏡和光學顯微鏡得到的信息聯系起來。因此，一種在獲得高分辨像的同時還可以得到大視場高反差的低倍顯微像、操作方便、結構緊湊，裝有EDS的計算機控制分析電鏡也就應運而生。例如，飛利浦公司的CM120
Biotwin電鏡配有冷凍試樣台和EDS，可以觀察分析反差低以及對電子束敏感的生物試樣。日本的JEM-1200電鏡在中、低放大倍數時都具有良好的反差，適用於材料科學和生命科學研究。目前，這種多用途120kV透射電鏡的點分辨本領達0.35nm左右。
8、場發射槍掃描透射電子顯微鏡
場發射掃描透射電鏡STEM是由美國芝加哥大學的A.V.Crewe教授在70年代初期發展起來的。試樣後方的兩個探測器分別逐點接收未散射的透射電子和全部散射電子。彈性和非彈性散射電子信息都隨原子序數而變。環狀探測器接收散射角大的彈性散射電子。重原子的彈性散射電子多，如果入射電子束直徑小於0.5nm，且試樣足夠薄，便可得到單個原子像。實際上STEM也已看到了γ-alumina支持膜上的單個Pt和Rh原子。透射電子通過環狀探測器中心的小孔，由中心探測器接收，再用能量分析器測出其損失的特徵能量，便可進行成分分析。為此，Crewe發展了亮度比一般電子槍高約5個量級的場發射電子槍FEG：曲率半徑僅為100nm左右的鎢單晶針尖在電場強度高達100MV/cm的作用下，在室溫時即可產生場發射電子，把電子束聚焦到0.2—1.0nm而仍有足夠大的亮度。英國VG公司在80年代開始生產這種STEM。最近在VGHB5 FEGSTEM上增加了一個電磁四極—八極球差校正器，球差系數由原來的3.5mm減少到0.1mm以下。進一步排除各種不穩定因素後，可望把100kV STEM的暗場像的分辨本領提高到0.1nm。利用加速電壓為300kV的VG-HB603U型獲得了Cu〈112〉的電子顯微像：0.208nm的基本間距和0.127nm的晶格像。期望物鏡球差系數減少到0.7mm的400kV儀器能達到更高的分辨本領。這種UHV-STEM儀器相當復雜，難以推廣。
9、能量選擇電子顯微鏡
能量選擇電鏡EF-TEM是一個新的發展方向。在一般透射電鏡中，彈性散射電子形成顯微像或衍射花樣；非彈性散射電子則往往被忽略，而近來已用作電子能量損失譜分析。德國Zeiss-Opton公司在80年代末生產的EM902A型生物電鏡，在成像系統中配有電子能量譜儀，選取損失了一定特徵能量的電子來成像。其主要優點是：可觀察0.5μm的厚試樣，對未經染色的生物試樣也能看到高反差的顯微像，還能獲得元素分布像等。目前Leica與Zeiss合並後的LEO公司的EM912 Omega電鏡裝有Ω-電子能量過濾器，可以濾去形成背底的非彈性散射電子和不需要的其它電子，得到具有一定能量的電子信息，進行能量過濾會聚束衍射和成像，清晰地顯示出原來被掩蓋的微弱顯微和衍射電子花樣。該公司在此基礎上又發展了200kV的全自動能量選擇TEM。JEOL公司也發展了帶Ω-電子能量過濾器的JEM2010FEF型電子顯微鏡，點分辨本領為0.19nm，能量解析度在100kV和200kV時分別為2.1μm/eV和1.1μm/eV。日立公司也報道了用EF-1000型γ形電子能量譜成像系統，在TEM中觀察到了半導體動態隨機存取存儲器DRAM中厚0.5μm切片的清晰剖面顯微像。
美國GATAN公司的電子能量選擇成像系統裝在投影鏡後方，可對電子能量損失譜EELS選擇成像。可在幾秒鍾內實現在線的數據讀出、處理、輸出、及時了解圖像的質量，據此自動調節有關參數，完成自動合軸、自動校正像散和自動聚焦等工作。例如，在400kV的JEM-4000EX電鏡上用PEELS得到能量選擇原子像，並同時完成EELS化學分析。
透射電鏡經過了半個多世紀的發展已接近或達到了由透鏡球差和衍射差所決定的0.1—0.2nm的理論分辨本領。人們正在探索進一步消除透鏡的各種像差〔20〕，在電子槍後方再增加一個電子單色器，研究新的像差校正法，進一步提高電磁透鏡和整個儀器的穩定性；採用並進一步發展高亮度電子源場發射電子槍，X射線譜儀和電子能量選擇成像譜儀，慢掃描電荷耦合器件CCD，冷凍低溫和環境試樣室，納米量級的會聚束微衍射，原位實時分析，錐狀掃描晶體學成像(Conical Scan Crystallography)，全數字控制，圖像處理與現代信息傳送技術實現遠距離操作觀察，以及克服試樣本身帶來的各種限制，透射電鏡正面臨著一個新的重大突破。
掃描電子顯微鏡
1、分析掃描電鏡和X射線能譜儀
目前，使用最廣的常規鎢絲陰極掃描電鏡的分辨本領已達3.5nm左右，加速電壓范圍為0.2—30kV。掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS後發展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。EDS發展十分迅速，已成為儀器的一個重要組成部分，甚至與其融為一體。但是，EDS也存在不足之處，如能量解析度低，一般為129—155eV,以及Si(Li)晶體需在低溫下使用(液氮冷卻)等。X射線波譜儀解析度則高得多，通常為5—10eV，且可在室溫下工作。1972年起EDAX公司發展了一種ECON系列無窗口探測器，可滿足分析超輕元素時的一些特殊需求，但Si(Li)晶體易受污染。1987年Kevex公司開發了能承受一個大氣壓力差的ATW超薄窗，避免了上述缺點，可以探測到B，C，N，O等超輕元素，為大量應用創造了條件。目前，美國Kevex公司的Quantifier,Noran公司的Extreme,Link公司的Ultracool,EDAX公司的Sapphire等Si(Li)探測器都屬於這種單窗口超輕元素探測器，解析度為129eV，133eV等，探測范圍擴展到了5B—92U。為克服傳統Si(Li)探測器需使用液氮冷卻帶來的不便，1989年Kevex公司推出了可不用液氮的Superdry探測器，Noran公司也生產了用溫差電製冷的Freedom探測器(配有小型冷卻循環水機)，和壓縮機製冷的Cryocooled探測器。這兩種探測器必須晝夜24小時通電，適合於無液氮供應的單位。現在使用的大多還是改進的液氮冷卻Si(Li)探測器，只需在實際工作時加入液氮冷卻，平時不必維持液氮的供給。最近發展起來的高純鍺Ge探測器，不僅提高了解析度，而且擴大了探測的能量范圍(從25keV擴展到100keV)，特別適用於透射電鏡：如Link的GEM型的解析度已優於115eV(MnKα)和65eV(FKα)，Noran的Explorer
Ge探測器，探測范圍可達100keV等。1995年中國科學院上海原子核研究所研製成了Si(Li)探測器，能量解析度為152eV。中國科學院北京科學儀器研製中心也生產了X射線能譜分析系統Finder-1000，硬體借鑒Noran公司的功能電路，配以該公司的探測器，採用Windows操作系統，開發了自己的圖形化能譜分析系統程序。
2、X射線波譜儀和電子探針儀
現代SEM大多配置了EDS探測器以進行成分分析。當需低含量、精確定量以及超輕元素分析時，則可再增加1到4道X射線波譜儀WDS。Microspec公司的全聚焦WDX-400，WDX-600型分別配有4塊和6塊不同的衍射晶體，能檢測到5B(4Be)以上的各種元素。該譜儀可以傾斜方式裝在掃描電鏡試樣室上，以便對水平放置的試樣進行分析，而不必如垂直譜儀那樣需用光學顯微鏡來精確調整試樣離物鏡的工作距離。
為滿足大量多元素試樣的超輕元素，低含量，高速定性、定量常規分析的需求，法國Cameca公司長期生產電子探針儀，SX50和SXmacro型配備4道WDS及1道EDS，物鏡內裝有同軸光學顯微鏡可以隨時觀察分析區域。島津公司最近生產的計算機控制EPMA-1600型電子探針，可配置2—5道WDS和1道EDS，試樣最大尺寸為100mm×100mm×50mm(厚)，二次電子圖像解析度為6nm。JEOL公司也生產了計算機控制的JXA-8800電子探針和JXA-8900系列WD／ED綜合顯微分析系統—超電子探針，可裝5道X射線光譜儀和1道X射線能譜儀，元素分析范圍為5B—92U，二次電子圖像解析度為6nm。
Noran公司下屬的Peak公司最近發展了一種嶄新的APeX全參數X射線光譜儀，與傳統的機械聯動機構完全不同，由計算機控制6個獨立的伺服馬達分別調節分光晶體的位置和傾角以及X射線探測器的X、Y坐標和狹縫寬度。配有4塊標準的分光晶體可分析5B(4Be)以上的元素。羅蘭圓半徑隨分析元素而變，可分別為170，180，190和200mm，以獲得最高的計數率，提高了分析精度和靈活性。Noran公司還推出了稱為MAXray的X射線平行束光譜儀，將最新的X光學研究成果——准平行束整體X光透鏡置於試樣上的X射線發射點和分析晶體之間，提高了接收X射線的立體角，比一般WDS的強度提高了50倍左右。可分析100eV—1.8keV能量范圍內的K、L、M線，特別有利於低電壓、低束流分析，對Be、B、C、N、O和F的解析度可高達5—15eV，兼有WDS的高解析度和EDS的高收集效率。這兩種新型X射線光譜儀可望得到廣泛的應用。
3、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡
場發射掃描電鏡得到了很大的發展〔24〕。日立公司推出了冷場發射槍掃描電鏡，Amray公司則生產熱場發射槍掃描電鏡，不僅提高了常規加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。低壓掃描電鏡LVSEM由於可以提高成像的反差，減少甚至消除試樣的充放電現象並減少輻照損傷，因此受到了人們的囑目。JEOL公司的JSM-6000F型場發射超高分辨SEM的分辨本領在加速電壓30kV時達0.6nm，已接近TEM的水平，但試樣必須浸沒入物鏡的強磁場中以減少球差的影響，所以尺寸受到限制，最大為23mm×6mm×3mm(厚)。試樣半浸沒在物鏡磁場中的場發射JSM-6340F型可以觀察大試樣，加速電壓15kV時分辨本領為1.2nm，低壓1kV時為2.5nm。這兩種SEM由於試樣要處在磁場中所以不能觀察磁性材料。使用CF校正場小型物鏡可觀察大試樣的場發射JSM-6600F型分辨本領為2.5nm(1kV時為8nm)。日立公司也供應這幾類產品如S-5000，S-4500和S-4700型。
4、超大試樣室掃描電鏡
德國Visitec捷高公司的超大試樣室Mira型掃描電鏡。被檢物的最大尺寸可為直徑700mm，高600mm，長1400mm，最大重量可達300公斤，真空室長1400，寬1100和高1200mm。分辨本領4nm，加速電壓0.3kV—20kV。是一種新的計算機控制、非破壞性的檢查分析測試裝置，可用於工業產品的生產，質量管理，微機加工和工藝品的檢查研究等。
5、環境掃描電鏡
80年代出現的環境掃描電鏡ESEM，根據需要試樣可處於壓力為1—2600Pa不同氣氛的高氣壓低真空環境中，開辟了新的應用領域。與試樣室內為10-3Pa的常規高真空SEM不同，所以也可稱為低真空掃描電鏡LV-SEM。在這種低真空環境中，絕緣試樣即使在高加速電壓下也不會因出現充、放電現象而無法觀察；潮濕的試樣則可保持其原來的含水自然狀態而不產生形變。因此，ESEM可直接觀察塑料、陶瓷、紙張、岩石、泥土，以及疏鬆而會排放氣體的材料和含水的生物試樣，無需先噴塗導電層或冷凍乾燥處理。1990年美國Electro
Scan公司首先推出了商品ESEM。為了保證試樣室內的高氣壓低真空環境，LV-SEM的真空系統須予以特殊考慮。目前，Amray,Hitachi,JEOL和LEO等公司都有這種產品。試樣室為6—270Pa時，JSM—5600LV—SEM的分辨本領已達5.0nm，自動切換到高真空狀態後便如常規掃描電鏡一樣，分辨本領達3.5nm。中國科學院北京科學儀器研製中心與化工冶金研究所合作，發展KYKY-1500高溫環境掃描電子顯微鏡，試樣最高溫度可達1200℃，最高氣壓為2600Pa；800℃時解析度為60nm，觀察了室溫下的濕玉米澱粉顆粒斷面、食鹽的結晶粒子，以及在50Pa，900℃時鐵礦中的針形Fe\-2O\-3等試樣。
6、掃描電聲顯微鏡
80年代初問世的掃描電聲顯微鏡SEAM，採用了一種新的成像方式：其強度受頻閃調制的電子束在試樣表面掃描，用壓電感測器接收試樣熱、彈性微觀性質變化的電聲信號，經視頻放大後成像。能對試樣的亞表面實現非破壞性的剖面成像。可應用於半導體、金屬和陶瓷材料，電子器件及生物學等領域。中國科學院北京科學儀器研製中心也發展了這種掃描電聲顯微鏡，空間分辨本領為0.2—0.3μm。最近，中國科學院上海硅酸鹽研究所採用數字掃描發生器控制電子束掃描等技術，提高了信噪比，使SEAM的圖像質量得到了很大的改進。
7、測長／缺陷檢測掃描電鏡
SEM不但在科學研究而且在工農業生產中得到了廣泛的應用，特別是電子計算機產業的興起使其得到了很大的發展。目前半導體超大規模集成電路每條線的製造寬度正由0.25μm向0.18μm邁進。作為半導體集成電路生產線上Si片的常規檢測工具，美國Amray公司推出了一種缺陷檢測3800型DRT掃描電鏡，採用了加熱到1800K的ZrO/W陰極肖脫基熱場發射電子槍，具有良好的低加速電壓性能：1kV時分辨本領達4nm，而且電子束流的穩定度優於1%/h、可長期連續工作，對直徑為100，125，150，200mm的Si片，每小時可檢測100個缺陷。日立公司為了克服以往在室溫下工作的冷場發射槍測長掃描電鏡(CD-SEM)因需要進行閃爍處理以去除發射尖上所吸附的氣體分子而經常中斷工作、影響在生產線上應用的缺點，最近也推出了這種ZrO/W陰極熱場發射電子槍的S-8000系列CD-SEM。為了克服熱場發射比冷場發射槍電子能量分散大的缺點，設計了阻滯場電磁物鏡，並改進了二次電子探測器，在加速電壓為800V時分辨本領為5nm，可以每小時20片，每片5個檢測點的速度連續檢測125—200mm直徑的Si〔1,28〕。
8、晶體學取向成像掃描電子顯微術
SEM的另一個新發展方向是以背散射電子衍射圖樣(EBSP)為基礎的晶體學取向成像電子顯微術(OIM)。在SEM上增加一個可將試樣傾動約70度的裝置，CCD探測器和數據處理計算機系統，掃描並接收記錄塊狀試樣表面的背散射電子衍射花樣(背散射菊池花樣)，按試樣各部分不同的晶體取向分類成像來獲得有關晶體結構的信息，可顯示晶粒組織、晶界和裂紋等，也可用於測定織構和晶體取向。可望發展成SEM的一個標准附件。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSL
OIM系統，空間分辨本領已優於0.2μm，比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級，在0.4秒鍾內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OPAL公司的EBSD結晶學分析系統，目前已用於Si片上Al連線的取向分析，以判斷其質量的優劣及可行性。
9、計算機控制掃描電鏡
90年代初，飛利浦公司推出了XL系列掃描電鏡。在保持重要功能的同時，減少了操作的復雜性。儀器完全由計算機軟體控制操作。許多參量(焦距、像散校正和試樣台移動速度等)和調節靈敏度都會根據顯微鏡的工作狀態作自適應變化和耦合，可迅速而准確地改變電鏡的主要參數。EDS完全與XL系統實現了一體化。該公司1995年生產了XL40
FEG等場發射掃描電鏡。日立，JEOL等也先後推出了計算機控制的掃描電鏡。
場發射掃描電鏡的分辨本領最高已達到0.6nm，接近了透射電鏡的水平，並得到了廣泛的應用，但尚不能分辨原子。如何進一步提高掃描電鏡的圖像質量和分辨本領是人們十分關注的問題。Joy DC指出：由於分辨本領受到試樣表面二次電子SE擴散區大小的基本限制，採取適當措施如噴鍍一超薄金屬層或布洛赫波隧穿效應(Bloch Wave Channeling)等來限制SE擴散區的尺寸，二次電子分辨本領可望達到0.2—0.3nm，並進而觀察原子像。現代SEM電子束探針的半高寬FWHM已達0.3nm，場發射電子槍也已具有足夠高的亮度。因此在電子光學方面目前並不構成對SE分辨本領的基本限制。然而，對SEM的機械設計如試樣台的漂移和震動等尚未給予足夠的、如對掃描隧道顯微鏡那樣的重視、二次電子探測器的信噪比和反差還不夠理想，也影響了分辨本領。此外，SE分辨本領的定義和測定方法，SEM圖像處理等也不如透射電子顯微鏡那麼嚴格和完善。這些問題的解決必將進一步提高SEM的圖像質量和分辨本領。
參考文獻
〔1〕 金鶴鳴，姜新力，姚駿恩.中國電子顯微分析儀器市場.見：分析儀器市場調查與分析.北京：海洋出版社，1998.第四章.p113—152.(待出版).
〔2〕 姚駿恩.創造探索微觀世界的有力工具(今年諾貝爾獎物理學獎獲得者的貢獻).中國科技報，1986-12-08(3).
〔3〕 姚駿恩.電子顯微鏡的最近進展.電子顯微學報，1982，1(1)∶1—9.
〔4〕 郭可信.晶體電子顯微學與諾貝爾獎.電子顯微學報，1983，2(2)∶1—5.
另外,站長團上有產品團購,便宜有保證

⑤ 用電子顯微鏡任何小的粒子都可以觀察到嗎

不是，如果要觀察的粒子直徑小於電子波波長的話就看不到。

⑥ 需要一個廣告的描述，具體點，以及廣告的特色。

給你找了下面的，看看適合不。

可口可樂的：
對於可口可樂，實在是一言難盡，它太富有傳奇色彩了。2001年《商業周刊》公布的全球100個最具價值品牌名單中，可口可樂以高達725億美元高居榜首。二十世紀調查顯示，全球最流行的三個詞分別是上帝(God)，她(her)和可口可樂(Coca Cola)。可口可樂還是中國改革開放後第一個進入中國的外企，也是第一個在中國做廣告的。1984年英女王訪華，英國電視台BBC拍了一個紀錄片給中國中央電視台放。作為外交禮節，中央電視台必須播放，但苦於沒錢給BBC，於是找到可口可樂要贊助。可口可樂提出了一個贊助條件：在紀錄片播放之前加播一個可口可樂的廣告片。這成了新中國電視廣告歷史上的開篇之筆。此後很多企業寫報告問「可口可樂可以做電視廣告，我們行不行？」於是做電視廣告的口子打開了。 撇開可口可樂榮耀不論，可口可樂的廣告策略在全世界也是首屈一指的。可口可樂公司的前老闆伍德拉夫有一句名言：「可口可樂99.61%是碳酸、糖漿和水。如果不進行廣告宣傳，那還有誰會喝它呢？」從歷史上看，可口可樂公司機以廣告投入巨大而取勝的。如今可口可樂在全球每年廣告費超過6億美元。中國市場也不例外，可口可樂在中國每年廣告投入高達幾千萬元。起初，可口可樂是以國際化形象出現在中國消費者面前的，憑最典型化的美國風格和美國個性來打動消費者，所用廣告也是美國亞特蘭大版本。臨近20世紀末時，可口可樂意識到，要當中國飲料市場的領導者，品牌融合中國文化才是長久之路。於是在1997年，可口可樂的廣告營銷策略發生了顯著的變化，其在中國推出的電視廣告，第一次選擇在中國拍攝，第一次請中國廣告公司設計，第一次邀請中國演員拍廣告。可口可樂開始大踏步實施廣告本土化的策略。

這是肯德基的：
案例研討小組兩名成員在北京肯德基有限公司的配合下，經過兩個多月的努力，終於完成了本篇案例的撰寫。采訪肯德基這樣一個餐飲業特許經營方面的典範，我們最深的感觸是：肯德基是一個有明確戰略的企業，並且能夠將這個戰略成功地貫徹實施。同樣是以人為本，同樣是穩健經營，管理理論是一樣的，但做出來就大有不同了。一個完美無缺的經營戰略，如果執行不力，最後也會變得一文不名； 而確定了恰如其分的經營戰略，再輔之以完滿的貫徹實施，企業才能百戰不殆，長盛不衰。 作為國際餐飲巨頭，肯德基值得探討和深入研究的地方太多了，本案例也只涉及到其中一小部分。肯德基為什麼做這樣的決策？肯德基是怎麼執行的？又是怎樣推進到位的？這是本案例最關注的三個問題。 肯德基的自身實力，遠景戰略目標與經營管理三者是高度統一，相互支持的。為了發展中國的快餐業和特許經營業，我們要向肯德基學習，但同時也必須從自身實際出發，把它的成功經驗與本企業的實際情況相結合，這樣才能學有所獲。本案例（上）內容為遠景目標、市場營銷和選址策略；本案例（下）內容為特許經營、企業 文化、供應商管理和員工培訓。 選址策略 地點是飯店經營的首要因素，餐飲連鎖經營也是如此。連鎖店的正確選址，不僅是其成功的先決條件，也是實現連鎖經營標准化、簡單化、專業化的前提條件和基礎。因此，肯德基對快餐店選址是非常重視的，選址決策一般是兩級審批制，通過兩個委員會的同意，一個是地方公司，另一個是總部。其選址成功率幾乎是百分之百，是肯德基的的核心競爭力之一。 肯德基選址按以下幾步驟進行。 ★商圈的劃分與選擇 1．劃分商圈 肯德基計劃進入某城市，就先通過有關部門或專業調查公司收集這個地區的資料。有些資料是免費的，有些資料需要花錢去買。把資料買齊了，就開始規劃商圈。 商圈規劃採取的是記分的方法，例如，這個地區有一個大型商場，商場營業額在1000 萬元算一分，5000萬元算5分，有一條公交線路加多少分，有一條地鐵線路加多少分。這些分值標準是多年平均下來的一個較准確經驗值。 通過打分把商圈分成好幾大類，以北京為例，有市級商業型（西單、王府井等）、區級商 業型、定點（目標）消費型、還有社區型、社、商務兩用型、旅遊型等等。 2．選擇商圈 即確定目前重點在哪個商圈開店，主要目標是哪些。在商圈選擇的標准上，一方面要考 慮餐館自身的市場定位，另一方面要考慮商圈的穩定度和成熟度。餐館的市場定位不同，吸引的顧客群不一樣，商圈的選擇也就不同。 例如馬蘭拉麵和肯德基的市場定位不同，顧客群不一樣，是兩個「相交」的圓，有人吃肯德基也吃馬蘭拉麵，有人可能從來不吃肯德基專吃馬蘭拉麵，也有反之。馬蘭拉麵的選址也當然與肯德基不同。 而肯德基與麥當勞市場定位相似，顧客群基本上重合，所以在商圈選擇方面也是一樣的。 可以看到，有些地方同一條街的兩邊，一邊是麥當勞另一邊是肯德基。 商圈的成熟度和穩定度也非常重要。比如規劃局說某條路要開，在什麼地方設立地址， 將來這里有可能成為成熟商圈，但肯德基一定要等到商圈成熟穩定後才進入，例如說這家店三年以後效益會多好，對現今沒有幫助，這三年難道要虧損？肯德基投入一家店要花費好幾百萬，當然不冒這種險，一定是比較穩健的原則，保證開一家成功一家。 ★聚客點的測算與選擇 1．要確定這個商圈內，最主要的聚客點在哪。 例如，北京西單是很成熟的商圈，但不可能西單任何位置都是聚客點，肯定有最主要的 聚集客人的位置。肯德基開店的原則是：努力爭取在最聚客的地方和其附近開店。 過去古語說「一步差三市」。開店地址差一步就有可能差三成的買賣。這跟人流動線（人流活動的線路）有關，可能有人走到這，該拐彎，則這個地方就是客人到不了的地方，差不了一個小胡同，但生意差很多。這些在選址時都要考慮進去。 人流動線是怎麼樣的，在這個區域里，人從地鐵出來後是往哪個方向走等等。這些都派人去掐表，去測量，有一套完整的數據之後才能據此確定地址。

下面是寶潔的：
始創於1837年的寶潔公司，是世界最大的日用消費品公司之一。2003-2004財政年度，公司全年銷售額為514億美元。在《財富》雜志最新評選出的全球500家最大工業/服務業企業中，排名第86位。寶潔公司全球雇員近10萬，在全球80多個國家設有工廠及分公司，所經營的300多個品牌的產品暢銷160多個國家和地區，其中包括織物及家居護理、美發美容、嬰兒及家庭護理、健康護理、食品及飲料等。眾所周知，寶潔是個文化立足，品牌起家的跨國企業。全球化戰略、多品牌、文化戰略是寶潔成功的三大法寶。准確命名樹立品牌寶潔公司對品牌的命名，非常講究，他們深諳一個貼切而絕妙的品牌命名，能大大地減小產品被消費者認知的阻力，能激發顧客美好的聯想，增進顧客對產品的親和力和信賴感，並可大大節省產品推廣的費用。寶潔公司通過對英文名字(單詞)的精確選擇或組合來給產品品牌命名，使中文名字與英文能在意義和發音上很協調貼切地配合。准確地體現了產品的特點和要塑造的品牌形象以及消費定位，提升了品牌的形象。當然，廣告宣傳是必不可少的。寶潔公司每年的廣告宣傳費用佔全年銷售總額的1／8，一方面，通過在電視、網路、雜志上做廣告；另一方面，通過在全國范圍內聘形象代言人、在高校設立獎學金、與國家相關部門搞公益活動等來提高品牌的認知度。與此同時，為了佔領終端消費市場，在農村，寶潔公司搞了全國性的路演活動；在城市，寶潔公司的產品在超市、商場中的陳列非常講究，占據很大的貨架空間，容易吸引消費者的注意力。通過廣告宣傳，有效地提高了品牌的知名度和美譽度。利益訴求與情感訴求提高品牌的文化內涵利益訴求就是從品牌的功效來演繹概念；情感訴求則從與消費者的情感聯系中來演繹概念。寶潔的廣告訴求很注重利益，如「佳潔士」與全國牙防組推廣「根部防蛀」的防牙、護牙理念；「舒膚佳」與中華醫學會推廣「健康、殺菌、護膚」的理念；洗發水的「去屑、健康、柔順」理念等。這無一不是品牌的利益訴求。除此之外，寶潔的品牌還加強了情感訴求，如最近兩年，飄柔打出自信的概念大旗，從「飄柔吵架篇」、「飄柔老師篇」到現在的「飄柔指揮家篇」，飄柔廣告無不以自信作為品牌的訴求點。此外，飄柔還相繼推出「飄柔自信學院」、「多重挑戰」、「同樣自信」、「職場新人」、「說出你的自信」等系列活動，將「自信」概念演繹得爐火純青。通過利益訴求與情感訴求的有機結合，大大地提高了品牌的文化內涵。獨特的品牌營銷策略：多品牌，多個性在同一領域成功地推出多品牌，是寶潔在品牌營銷中的一大特點。人們知道，寶潔的每一款產品的特性是各不相同的，寶潔的家族中也沒有完全相同的兩款品牌，寶潔這樣在同領域推出不同品牌的做法，與我們傳統的產品理念有很大的區別，這不是無異於在窩里斗，會不會造成宣傳資源的浪費？經過多年的品牌營銷實踐證明，答案是否定的。寶潔不斷在相同領域推出自己不同品牌的做法，正是考慮到市場本身的多元化、以及消費者不同性格、不同喜好、不同偏愛、不同需求這一根本差別，寶潔不僅要力爭滿足全球消費者的共同需要，同時也盡力滿足具體市場的獨特需求。這與目前市場上不同檔次、不同價位的產品之間相互抄襲或模仿，其心存誤導之意的做法有著根本的不同，寶潔首先將目標市場劃定為不同區間，結合產品的不同品質，使不同品牌的產品有很強的可辨別性和很明確的市場定位，這樣可供消費者選擇的范圍拓寬了，並讓消費者買得明明白白。運作模式：內外兼備立體化寶潔進攻市場常用的武器是廣告，與央視標王秦池、愛多不同的是，寶潔認為「市場輸贏的界定在於有沒有好的產品」，並以此作為佔領市場的大前提和根本要素，以質量求生存，在市場的進化和優勝劣汰的過程中，已經被無數次地證實了它的正確。寶潔每年對產品都要進行改進和升級，例如其汰漬品牌自推出以來，已改進了６０多次。寶潔將分銷商定位為現代化的分銷儲運中心，組建由戰略性客戶組成的分銷商網路，分銷商除了具備規模、效率、專業服務和規范的特點之外，還需具有很強的融資能力，同時減少分銷商的數量，為現有分銷商的生意拓展提供了空間。在「雙贏」的策略指導下，寶潔與分銷商一起分享寶潔的專業知識、系統及技能，正是這密切的合作從而將品牌營銷落到實處。獨門暗器——市場調查寶潔對每個不同地區的文化形態的深入理解，是寶潔產品能在全球迅速推廣的根本之一。在進軍中國市場之初，寶潔公司在中國全境做了長達兩年的市場調查，對目標市場和消費群體建立了比較充分、清晰、客觀的概念。為了深入了解中國消費者，寶潔公司在中國建立了完善的市場調研系統，開展消費者追蹤並嘗試與消費者建立持久的溝通關系。早期的國人的消費觀念還停留在比較單純的「名牌崇尚」階段。寶潔在觀察、認識、理解消費者之後，很注意與中國消費者在各個層面上的溝通，在其中國的市場研究部建立了龐大的資料庫，及時捕捉消費者的意見。這些意見被及時分析處理後、反饋給市場、研發、生產等部門，以生產出更適合中國消費者使用的產品。品牌形象：以人為本個性化的品牌，讓我們的生活更加豐富多彩，這一點人們早已達成共識。寶潔描繪的品牌願望在人們心中占據的位置及熱情的程度卻無勝於有，這種善於製造期待值的技巧正是源於對人性的深刻的洞察。只有貼近人性、攻佔心靈、才能談得上消費者對品牌有認識有了解。寶潔的產品工藝和廣告策略都源於對人的尊重，為人類的生活創造更豐富的價值。寶潔以其多品牌和新意輩出為追蹤時尚新潮的消費者最前沿的流行情報和示意，讓他們認知、領悟繼而青眼有加，配合市場銷售，電視廣告是必不可少的，一則給品牌的追隨者以耳目一新的激情與信念，一則細致更體貼地與之交流對新生活的詩意與細節的敏感及理解程度，短短數年內，寶潔的多品牌在消費者認知里已深植內心。
寶潔號稱「沒有打不響的品牌」，事實也是如此。自1988年進入中國市場以來，寶潔每年至少推出一個新品牌，盡管推出的產品價格為當地同類產品的3~5倍，但並不阻礙其成為暢銷品。可以說，只要有寶潔品牌銷售的地方，該產品就是市場的領導者。而寶潔進攻市場最常用的武器就是廣告了。上世紀80年代，寶潔首先給中國吹來廣告風，當海飛絲的去頭屑廣告在電視上熱播時，年輕人最時髦的話題就是海飛絲了。以後的很長一段時間里，只要在電視里出現了寶潔產品的廣告，都會擁有一群時髦的追風族。寶潔能取得這么高知名度，是建立在高成本廣告投入的基礎上的。據權威的市場調查公司統計，1999年寶潔在中國投入的廣告費超過5億元，佔中國日化領域的10%左右。遠比同是跨國公司的聯合利華高的多，更別談國內產品。如果寶潔廣告的特徵僅僅是狂轟濫炸，那它的廣告策略稱不上最佳，最多淪為像哈葯、腦白金那樣讓人煩。寶潔廣告策略自然有其他品牌不可比擬的精妙之處。首先，寶潔廣告定位與產品定位渾然一體。眾所周知，寶潔是世界上品牌最多的公司之一，這源自於寶潔的市場細分理念。它認為，一千個消費者有一千個哈姆雷特，歸結出一些不同點，用琳琅滿目的品牌逐一擊破。於是寶潔洗發水麾下有飄柔、潘婷、海飛絲三大品牌，洗衣粉系列有汰漬、碧浪，香皂市場有舒服佳、玉蘭油。然而，寶潔並不擔心各種品牌在同一貨架上的相互競爭，因為寶潔廣告已經明白無誤地告訴了消費者，該使用哪種品牌。以洗發水為例，海飛絲個性在於去頭屑，「頭屑去無蹤，秀發更出眾」，飄柔突出「飄逸柔順」，潘婷則強調「營養頭發，更健康更亮澤」，三種品牌個性一目瞭然。消費者想去頭屑自然選擇海飛絲而不是飄柔，從而避開了二者的競爭。寶潔的廣告細分，達到了把中國消費者一網打盡的目的。1999年中國洗發水市場，寶潔產品占市場份額的60%以上，其中飄柔以25.43%份額高居榜首，潘婷和海飛絲分別以18.55%和15.11%的市場份額緊隨其後。其次，寶潔廣告極具說服力。它的電視廣告慣用的公式是「專家法」和「比較法」。寶潔先指出你面臨的一個問題，比如頭癢，頭屑多，接著便有一個權威的專家來告訴你，頭屑多這個問題可以解決，那就是使用海飛絲，最後用了海飛絲，頭屑沒了，秀發自然更出眾。這就是「專家法」。「比較法」是指寶潔將自己的產品與競爭者的產品相比，通過電視畫面，消費者能夠很清楚地看出寶潔產品的優越性。當然寶潔廣告常常揉和「專家法」和「比較法」，比如舒服佳廣告。舒服佳先宣揚一種新的皮膚清潔觀念，表示香皂既要去污，也要殺菌。它的電視廣告，通過顯微鏡下的對比，表明使用舒服佳比使用普通香皂，皮膚上殘留的細菌少得多，強調了它強有力的殺菌能力。它的說辭「唯一通過中華醫學會認可」，再一次增強其權威性。綜觀舒服佳廣告，它的手法平平，沖擊力卻極強。再次，寶潔形象代言人與眾不同。寶潔的競爭產品，比如聯合利華一直聘請國際大腕級女名人做形象代言人，絲寶邀請香港巨星如鄭伊健、謝霆鋒作風影的廣告代言人，而寶潔代言人通常是符合寶潔產品個性、氣質定位的平民化廣告新人。這類廣告讓廣大消費者耳目一新，給他們帶來了平和、親近的感受。此外，平民化廣告也起到了很好的暗示作用，使消費者對號入座，不知不覺中成了寶潔產品的俘虜。比如飄柔廣告代言人，通常是公司的白領，而平常注重形象、願意頭發更柔順的消費者也常是受過教育的白領階層，自然飄柔廣告深受他們的歡迎。寶潔幾乎無懈可擊的廣告策略給寶潔帶來了擋不住的效益。據國家有關部門數據顯示，1999年寶潔在中國大陸的產品銷售額已超過130億元，其中飄柔、潘婷、海飛絲、沙宣四種洗發水占洗發水市場份額的60%以上，汰漬、碧浪洗衣粉占洗衣粉市場份額的33%，舒服佳佔香皂市場的41%。這些驚人的數據表明，寶潔已成為中國日用品市場上無人能敵的霸主。寶潔的廣告策略也是傲視群雄的，按上述分析，寶潔居十大最佳品牌廣告策略之首，自無異議了。

希望能夠幫到你，望採納！

⑦ 求推薦一本詳細介紹「顯微鏡發展歷史」的書籍

專門的書籍倒沒有。但多個網路中都有資料可以查到，請自己再經過整理就可以。以下先給一些找到的資料。要很詳細還是你得自己下點功夫收集和整理。
現在單就歷史來說

早在公元前一世紀，人們就已發現通過球形透明物體去觀察微小物體時，可以使其放大成像。後來逐漸對球形玻璃表面能使物體放大成像的規律有了認識。
1590年，荷蘭和義大利的眼鏡製造者已經造出類似顯微鏡的放大儀器。
1611年，Kepler(克卜勒)：提議復合式顯微鏡的製作方式。
1665年，Hooke(虎克)：「細胞」名詞的由來便由虎克利用復合式顯微鏡觀察軟木的木栓組織上的微小氣孔而得來的。
1674年，Leeuwenhoek(列文虎克)：發現原生動物學的報導問世，並於九年後成為首位發現「細菌」存在的人。
1833年，Brown(布朗)：在顯微鏡下觀察紫羅蘭，隨後發表他對細胞核的詳細論述。
1838年，Schlieden and Schwann(施萊登和施旺)：皆提倡細胞學原理，其主旨即為「有核細胞是所有動植物的組織及功能之基本元素」。
1857年，Kolliker(寇利克)：發現肌肉細胞中之線粒體。
1876年，Abbe(阿比)：剖析影像在顯微鏡中成像時所產生的繞射作用，試圖設計出最理想的顯微鏡。
1879年，Flrmming(佛萊明)：發現了當動物細胞在進行有絲分裂時，其染色體的活動是清晰可見的。
1881年，Retziue(芮祖)：動物組織報告問世，此項發表在當世尚無人能凌駕逾越。然而在20年後，卻有以Cajal(卡嘉爾)為首的一群組織學家發展出顯微鏡染色觀察法，此舉為日後的顯微解剖學立下了基礎。
1882年，Koch(寇克)：利用苯安染料將微生物組織進行染色，由此他發現了霍亂及結核桿菌。往後20年間，其它的細菌學家，像是Klebs 和 Pasteur(克萊柏和帕斯特)則是藉由顯微鏡下檢視染色葯品而證實許多疾病的病因。
1886年，Zeiss(蔡氏)：打破一般可見光理論上的極限，他的發明--阿比式及其它一系列的鏡頭為顯微學者另闢一新的解像天地。
1898年，Golgi(高爾基)：首位發現細菌中高爾基體的顯微學家。他將細胞用硝酸銀染色而成就了人類細胞研究上的一大步。
1924年，Lacassagne(蘭卡辛)：與其實驗工作夥伴共同發展出放射線照相法，這項發明便是利用放射性釙元素來探查生物標本。
1930年，Lebedeff(萊比戴衛)：設計並搭配第一架干涉顯微鏡。另外由Zernicke(卓尼柯)在1932年發明出相位差顯微鏡，兩人將傳統光學顯微鏡延伸發展出來的相位差觀察使生物學家得以觀察染色活細胞上的種種細節。
1941年，Coons(昆氏)：將抗體加上螢光染劑用以偵測細胞抗原。
1952年，Nomarski(諾馬斯基)：發明干涉相位差光學系統。此項發明不僅享有專利權並以發明者本人命名之。
1981年，Allen and Inoue(艾倫及艾紐)：將光學顯微原理上的影像增強對比，發展趨於完美境界。
1988年，Confocal(共軛焦)掃描顯微鏡在市場上被廣為使用。

激光共聚焦顯微鏡

激光掃描共聚焦顯微鏡是二十世紀80年代發展起來的一項具有劃時代的高科技產品，它是在熒光顯微鏡成像基礎上加裝了激光掃描裝置，利用計算機進行圖像處理，把光學成像的解析度提高了30%--40%，使用紫外或可見光激發熒光探針，從而得到細胞或組織內部微細結構的熒光圖像，在亞細胞水平上觀察諸如Ca2+ 、PH值，膜電位等生理信號及細胞形態的變化，成為形態學，分子生物學，神經科學，葯理學，遺傳學等領域中新一代強有力的研究工具。激光共聚焦成像系統能夠用於觀察各種染色、非染色和熒游標記的組織和細胞等，觀察研究組織切片，細胞活體的生長發育特徵，研究測定細胞內物質運輸和能量轉換。能夠進行活體細胞中離子和PH值變化研究（RATIO），神經遞質研究，微分干涉及熒光的斷層掃描，多重熒光的斷層掃描及重疊，熒光光譜分析熒光各項指標定量分析熒光樣品的時間延遲掃描及動態構件組織與細胞的三維動態結構構件，熒光共振能量的轉移的分析，熒光原位雜交研究（FISH），細胞骨架研究，基因定位研究，原位實時PCR產物分析，熒光漂白恢復研究（FRAP），胞間通訊研究，蛋白質間研究，膜電位與膜流動性等研究，完成圖像分析和三維重建等分析。

共聚焦顯微鏡已經在醫學領域廣泛應用，分類如下：A.在細胞及分子生物學中的應用⒈ ；細胞、組織的三維觀察和定量測量
⒉ ；活細胞生理信號的動態監測
⒊ ；粘附細胞的分選
⒋ ；細胞激光顯微外科和光陷阱功能
⒌ ；光漂白後的熒光恢復
⒍ ；在細胞凋亡研究中的應用B.在神經科學中的應用⒈ ；定量熒光測定
⒉ ；細胞內離子的測定
⒊ ；神經細胞的形態觀察C.在耳鼻喉科學中的應用⒈ ；在內耳毛細胞亞細胞結構研究上的應用
⒉ ；激光掃描共聚焦顯微鏡的熒光測鈣技術在內耳毛細胞研究中的應用
⒊ ；激光掃描共聚焦顯微鏡在內耳毛細胞離子通道研究上的應用
⒋ ；激光掃描共聚焦顯微鏡在嗅覺研究中的應用D.在腫瘤研究中的應用⒈ 定量免疫熒光測定
⒉ 細胞內離子分析
⒊ 圖像分析：腫瘤細胞的二維圖像分析
⒋ 三維重建E.在內分泌領域的應用⒈ 細胞內鈣離子的測定
⒉ 免疫熒光定位及免疫細胞化學研究
⒊ 細胞形態學研究：利用激光掃描共聚焦顯微鏡F.在血液病研究中的應用⒈ 在血細胞形態及功能研究方面的應用
⒉ 在細胞凋亡研究中的應用G.在眼科研究中的應用⒈ 利用激光掃描共聚焦顯微鏡觀察組織、細胞結構
⒉ 集合特殊的熒光染色在活體上觀察角膜外傷修復中細胞移行及成纖維細胞的出現
⒊ 利用激光掃描共聚焦顯微鏡觀察視網膜中視神經細胞的分布以及神經原的樹枝狀形態
⒋ 三維重建H. 在腎臟病中的應用可以系統觀察正常人腎小球系膜細胞的斷層掃描影像及三維立體影像水平，使圖像更加清晰，從計算機分析系統可從外觀到內在結構，從平面到立體，從靜態到動態，從形態到功能幾個方面對系膜細胞的認識得到提高。

SIM超解析度顯微鏡，STEP透射電子顯微鏡。。資料太多，網路知道協議又老怪怪的，沒事亂刪，寫多了，都不知能不能發，不能發，你就收不到，也沒用。

⑧ 電子顯微鏡的現狀及其發展趨勢

電子顯微鏡的現狀與展望

摘要: 本文扼要介紹了電子顯微鏡的現狀與展望。透射電子顯微鏡方面主要有：高分辨電子顯微學及原子像的觀察，像差校正電子顯微鏡，原子尺度電子全息學，表面的高分辨電子顯微正面成像，超高壓電子顯微鏡，中等電壓電鏡，120kV,100kV分析電鏡，場發射槍掃描透射電鏡及能量選擇電鏡等，透射電鏡將又一次面臨新的重大突破；掃描電子顯微鏡方面主要有：分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長／缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和計算機控制掃描電鏡等。掃描電鏡的分辨本領可望達到0.2—0.3nm並觀察到原子像。
關鍵詞：透射電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡 儀器製造與發展

電子顯微鏡(簡稱電鏡，EM)經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。我國的電子顯微學也有了長足的進展。電子顯微鏡的創制者魯斯卡(E.Ruska)教授因而獲得了1986年諾貝爾獎的物理獎。
電子與物質相互作用會產生透射電子，彈性散射電子，能量損失電子，二次電子，背反射電子，吸收電子，X射線，俄歇電子，陰極發光和電動力等等。電子顯微鏡就是利用這些信息來對試樣進行形貌觀察、成分分析和結構測定的。電子顯微鏡有很多類型，主要有透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡，TEM)和掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡，SEM)兩大類。掃描透射電子顯微鏡(簡稱掃描透射電鏡，STEM)則兼有兩者的性能。為了進一步表徵儀器的特點，有以加速電壓區分的，如：超高壓(1MV)和中等電壓(200—500kV)透射電鏡、低電壓(～1kV)掃描電鏡；有以電子槍類型區分的，如場發射槍電鏡；有以用途區分的，如高分辨電鏡，分析電鏡、能量選擇電鏡、生物電鏡、環境電鏡、原位電鏡、測長CD-掃描電鏡；有以激發的信息命名的，如電子探針X射線微區分析儀(簡稱電子探針，EPMA)等。
半個多世紀以來電子顯微學的奮斗目標主要是力求觀察更微小的物體結構、更細小的實體、甚至單個原子，並獲得有關試樣的更多的信息，如標征非晶和微晶，成分分布，晶粒形狀和尺寸，晶體的相、晶體的取向、晶界和晶體缺陷等特徵，以便對材料的顯微結構進行綜合分析及標征研究〔3〕。近來，電子顯微鏡(電子顯微學)，包括掃描隧道顯微鏡等，又有了長足的發展。本文僅討論使用廣泛的透射電鏡和掃描電鏡，並就上列幾個方面作一簡要介紹。部分透射電鏡和掃描電鏡的主要性能可參閱文獻。
透射電子顯微鏡
1、高分辨電子顯微學及原子像的觀察
材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關。觀察試樣中單個原子像是科學界長期追求的目標。一個原子的直徑約為1千萬分之2—3mm。因此，要分辨出每個原子的位置需要0.1nm左右的分辨本領，並把它放大約1千萬倍。70年代初形成的高分辨電子顯微學(HREM)是在原子尺度上直接觀察分析物質微觀結構的學科。計算機圖像處理的引入使其進一步向超高解析度和定量化方向發展，同時也開辟了一些嶄新的應用領域。例如，英國醫學研究委員會分子生物實驗室的A.Klug博士等發展了一套重構物體三維結構的高分辨圖像處理技術，為分子生物學開拓了一個嶄新的領域。因而獲得了1982年諾貝爾獎的化學獎，以表彰他在發展晶體電子顯微學及核酸—蛋白質復合體的晶體學結構方面的卓越貢獻。
用HREM使單個原子成像的一個嚴重困難是信號／雜訊比太小。電子經過試樣後，對成像有貢獻的彈性散射電子(不損失能量、只改變運動方向)所佔的百分比太低，而非彈性散射電子(既損失能量又改變運動方向)不相干，對成像無貢獻且形成亮的背底(亮場)，因而非周期結構試樣中的單個原子像的反差極小。在檔去了未散射的直透電子的暗場像中，由於提高了反差，才能觀察到其中的重原子，例如鈾和釷—BTCA中的鈾(Z＝92)和釷(Z＝90)原子。對於晶體試樣，原子陣列會加強成像信息。採用超高壓電子顯微鏡和中等加速電壓的高亮度、高相干度的場發射電子槍透射電鏡在特定的離焦條件(Scherzer欠焦)下拍攝的薄晶體高分辨像可以獲得直接與晶體原子結構相對應的結構像。再用圖像處理技術，例如電子晶體學處理方法，已能從一張200kV的JEM-2010F場發射電鏡(點分辨本領0.194nm)拍攝的解析度約0.2nm的照片上獲取超高解析度結構信息，成功地測定出解析度約0.1nm的晶體結構。
2.像差校正電子顯微鏡
電子顯微鏡的分辨本領由於受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對於常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恆為正值。在40年代由於兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像差是人們長期追求的目標。經過50多年的努力，1990年Rose提出用六極校正器校正透鏡像差得到無像差電子光學系統的方法。最近在CM200ST場發射槍200kV透射電鏡上增加了這種六極校正器，研製成世界上第一台像差校正電子顯微鏡。電鏡的高度僅提高了24cm，而並不影響其它性能。分辨本領由0.24nm提高到0.14nm。在這台像差校正電子顯微鏡上球差系數減少至0.05mm(50μm)時拍攝到了GaAs〈110〉取向的啞鈴狀結構像，點間距為0.14nm。
3、原子尺度電子全息學
Gabor在1948年當時難以校正電子透鏡球差的情況下提出了電子全息的基本原理和方法。論證了如果用電子束製作全息圖，記錄電子波的振幅和位相，然後用光波進行重現，只要光線光學的像差精確地與電子光學的像差相匹配，就能得到無像差的、解析度更高的像。由於那時沒有相乾性很好的電子源，電子全息術的發展相當緩慢。後來，這種光波全息思想應用到激光領域，獲得了極大的成功。Gabor也因此而獲得了諾貝爾物理獎。隨著Mollenstedt靜電雙棱鏡的發明以及點狀燈絲，特別是場發射電子槍的發展，電子全息的理論和實驗研究也有了很大的進展，在電磁場測量和高分辨電子顯微像的重構等方面取得了豐碩的成果〔9〕。Lichte等用電子全息術在CM30
FEG/ST型電子顯微鏡(球差系數Cs＝1.2mm)上以1k×1k的慢掃描CCD相機，獲得了0.13nm的分辨本領。目前，使用剛剛安裝好的CM30
FEG/UT型電子顯微鏡(球差系數Cs＝0.65mm)和2k×2k的CCD相機，已達到0.1nm的信息極限分辨本領。
4、表面的高分辨電子顯微正面成像
如何區分表面和體點陣周期從而得到試樣的表面信息是電子顯微學界一個長期關心的問題。目前表面的高分辨電子顯微正面成像及其圖像處理已得到了長足的進展，成功地揭示了Si〔111〕表面(7×7)重構的細節，不僅看到了掃描隧道顯微鏡STM能夠看到的處於表面第一層的吸附原子(adatoms)，而且看到了頂部三層的所有原子，包括STM目前還難以看到的處於第三層的二聚物(dimers)，說明正面成像法與目前認為最強有力的，在原子水平上直接觀察表面結構的STM相比，也有其獨到之處。李日升等以Cu〔110〕晶膜表面上觀察到了由Cu-O原子鏈的吸附產生的(2×1)重構為例，採用表面的高分辨電子顯微正面成像法，表明對於所有的強周期體系，均存在襯度隨厚度呈周期性變化的現象，對一般厚膜也可進行高分辨表面正面像的觀測。
5、超高壓電子顯微鏡
近年來，超高壓透射電鏡的分辨本領有了進一步的提高。JEOL公司製成1250kV的JEM-ARM
1250／1000型超高壓原子解析度電鏡，點分辨本領已達0.1nm，可以在原子水平上直接觀察厚試樣的三維結構。日立公司於1995年製成一台新的3MV超高壓透射電鏡，分辨本領為0.14nm。超高壓電鏡分辨本領高、對試樣的穿透能力強(1MV時約為100kV的3倍)，但價格昂貴，需要專門建造高大的實驗室，很難推廣。
6、中等電壓電子顯微鏡
中等電壓200kV\,300kV電鏡的穿透能力分別為100kV的1.6和2.2倍，成本較低、效益／投入比高，因而得到了很大的發展。場發射透射電鏡已日益成熟。TEM上常配有鋰漂移硅Si(Li)X射線能譜儀(EDS)，有的還配有電子能量選擇成像譜儀，可以分析試樣的化學成分和結構。原來的高分辨和分析型兩類電鏡也有合並的趨勢：用計算機控制甚至完全通過計算機軟體操作，採用球差系數更小的物鏡和場發射電子槍，既可以獲得高分辨像又可進行納米尺度的微區化學成分和結構分析，發展成多功能高分辨分析電鏡。JEOL的200kV
JEM-2010F和300kV JEM-3000F，日立公司的200kV HF-2000以及荷蘭飛利浦公司的200kV CM200 FEG和300kV CM300 FEG型都屬於這種產品。目前，國際上常規200kVTEM的點分辨本領為0.2nm左右，放大倍數約為50倍—150萬倍。
7、120kV\,100kV分析電子顯微鏡
生物、醫學以及農業、葯物和食品工業等領域往往要求把電鏡和光學顯微鏡得到的信息聯系起來。因此，一種在獲得高分辨像的同時還可以得到大視場高反差的低倍顯微像、操作方便、結構緊湊，裝有EDS的計算機控制分析電鏡也就應運而生。例如，飛利浦公司的CM120
Biotwin電鏡配有冷凍試樣台和EDS，可以觀察分析反差低以及對電子束敏感的生物試樣。日本的JEM-1200電鏡在中、低放大倍數時都具有良好的反差，適用於材料科學和生命科學研究。目前，這種多用途120kV透射電鏡的點分辨本領達0.35nm左右。
8、場發射槍掃描透射電子顯微鏡
場發射掃描透射電鏡STEM是由美國芝加哥大學的A.V.Crewe教授在70年代初期發展起來的。試樣後方的兩個探測器分別逐點接收未散射的透射電子和全部散射電子。彈性和非彈性散射電子信息都隨原子序數而變。環狀探測器接收散射角大的彈性散射電子。重原子的彈性散射電子多，如果入射電子束直徑小於0.5nm，且試樣足夠薄，便可得到單個原子像。實際上STEM也已看到了γ-alumina支持膜上的單個Pt和Rh原子。透射電子通過環狀探測器中心的小孔，由中心探測器接收，再用能量分析器測出其損失的特徵能量，便可進行成分分析。為此，Crewe發展了亮度比一般電子槍高約5個量級的場發射電子槍FEG：曲率半徑僅為100nm左右的鎢單晶針尖在電場強度高達100MV/cm的作用下，在室溫時即可產生場發射電子，把電子束聚焦到0.2—1.0nm而仍有足夠大的亮度。英國VG公司在80年代開始生產這種STEM。最近在VGHB5 FEGSTEM上增加了一個電磁四極—八極球差校正器，球差系數由原來的3.5mm減少到0.1mm以下。進一步排除各種不穩定因素後，可望把100kV STEM的暗場像的分辨本領提高到0.1nm。利用加速電壓為300kV的VG-HB603U型獲得了Cu〈112〉的電子顯微像：0.208nm的基本間距和0.127nm的晶格像。期望物鏡球差系數減少到0.7mm的400kV儀器能達到更高的分辨本領。這種UHV-STEM儀器相當復雜，難以推廣。
9、能量選擇電子顯微鏡
能量選擇電鏡EF-TEM是一個新的發展方向。在一般透射電鏡中，彈性散射電子形成顯微像或衍射花樣；非彈性散射電子則往往被忽略，而近來已用作電子能量損失譜分析。德國Zeiss-Opton公司在80年代末生產的EM902A型生物電鏡，在成像系統中配有電子能量譜儀，選取損失了一定特徵能量的電子來成像。其主要優點是：可觀察0.5μm的厚試樣，對未經染色的生物試樣也能看到高反差的顯微像，還能獲得元素分布像等。目前Leica與Zeiss合並後的LEO公司的EM912 Omega電鏡裝有Ω-電子能量過濾器，可以濾去形成背底的非彈性散射電子和不需要的其它電子，得到具有一定能量的電子信息，進行能量過濾會聚束衍射和成像，清晰地顯示出原來被掩蓋的微弱顯微和衍射電子花樣。該公司在此基礎上又發展了200kV的全自動能量選擇TEM。JEOL公司也發展了帶Ω-電子能量過濾器的JEM2010FEF型電子顯微鏡，點分辨本領為0.19nm，能量解析度在100kV和200kV時分別為2.1μm/eV和1.1μm/eV。日立公司也報道了用EF-1000型γ形電子能量譜成像系統，在TEM中觀察到了半導體動態隨機存取存儲器DRAM中厚0.5μm切片的清晰剖面顯微像。
美國GATAN公司的電子能量選擇成像系統裝在投影鏡後方，可對電子能量損失譜EELS選擇成像。可在幾秒鍾內實現在線的數據讀出、處理、輸出、及時了解圖像的質量，據此自動調節有關參數，完成自動合軸、自動校正像散和自動聚焦等工作。例如，在400kV的JEM-4000EX電鏡上用PEELS得到能量選擇原子像，並同時完成EELS化學分析。
透射電鏡經過了半個多世紀的發展已接近或達到了由透鏡球差和衍射差所決定的0.1—0.2nm的理論分辨本領。人們正在探索進一步消除透鏡的各種像差〔20〕，在電子槍後方再增加一個電子單色器，研究新的像差校正法，進一步提高電磁透鏡和整個儀器的穩定性；採用並進一步發展高亮度電子源場發射電子槍，X射線譜儀和電子能量選擇成像譜儀，慢掃描電荷耦合器件CCD，冷凍低溫和環境試樣室，納米量級的會聚束微衍射，原位實時分析，錐狀掃描晶體學成像(Conical Scan Crystallography)，全數字控制，圖像處理與現代信息傳送技術實現遠距離操作觀察，以及克服試樣本身帶來的各種限制，透射電鏡正面臨著一個新的重大突破。
掃描電子顯微鏡
1、分析掃描電鏡和X射線能譜儀
目前，使用最廣的常規鎢絲陰極掃描電鏡的分辨本領已達3.5nm左右，加速電壓范圍為0.2—30kV。掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS後發展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。EDS發展十分迅速，已成為儀器的一個重要組成部分，甚至與其融為一體。但是，EDS也存在不足之處，如能量解析度低，一般為129—155eV,以及Si(Li)晶體需在低溫下使用(液氮冷卻)等。X射線波譜儀解析度則高得多，通常為5—10eV，且可在室溫下工作。1972年起EDAX公司發展了一種ECON系列無窗口探測器，可滿足分析超輕元素時的一些特殊需求，但Si(Li)晶體易受污染。1987年Kevex公司開發了能承受一個大氣壓力差的ATW超薄窗，避免了上述缺點，可以探測到B，C，N，O等超輕元素，為大量應用創造了條件。目前，美國Kevex公司的Quantifier,Noran公司的Extreme,Link公司的Ultracool,EDAX公司的Sapphire等Si(Li)探測器都屬於這種單窗口超輕元素探測器，解析度為129eV，133eV等，探測范圍擴展到了5B—92U。為克服傳統Si(Li)探測器需使用液氮冷卻帶來的不便，1989年Kevex公司推出了可不用液氮的Superdry探測器，Noran公司也生產了用溫差電製冷的Freedom探測器(配有小型冷卻循環水機)，和壓縮機製冷的Cryocooled探測器。這兩種探測器必須晝夜24小時通電，適合於無液氮供應的單位。現在使用的大多還是改進的液氮冷卻Si(Li)探測器，只需在實際工作時加入液氮冷卻，平時不必維持液氮的供給。最近發展起來的高純鍺Ge探測器，不僅提高了解析度，而且擴大了探測的能量范圍(從25keV擴展到100keV)，特別適用於透射電鏡：如Link的GEM型的解析度已優於115eV(MnKα)和65eV(FKα)，Noran的Explorer
Ge探測器，探測范圍可達100keV等。1995年中國科學院上海原子核研究所研製成了Si(Li)探測器，能量解析度為152eV。中國科學院北京科學儀器研製中心也生產了X射線能譜分析系統Finder-1000，硬體借鑒Noran公司的功能電路，配以該公司的探測器，採用Windows操作系統，開發了自己的圖形化能譜分析系統程序。
2、X射線波譜儀和電子探針儀
現代SEM大多配置了EDS探測器以進行成分分析。當需低含量、精確定量以及超輕元素分析時，則可再增加1到4道X射線波譜儀WDS。Microspec公司的全聚焦WDX-400，WDX-600型分別配有4塊和6塊不同的衍射晶體，能檢測到5B(4Be)以上的各種元素。該譜儀可以傾斜方式裝在掃描電鏡試樣室上，以便對水平放置的試樣進行分析，而不必如垂直譜儀那樣需用光學顯微鏡來精確調整試樣離物鏡的工作距離。
為滿足大量多元素試樣的超輕元素，低含量，高速定性、定量常規分析的需求，法國Cameca公司長期生產電子探針儀，SX50和SXmacro型配備4道WDS及1道EDS，物鏡內裝有同軸光學顯微鏡可以隨時觀察分析區域。島津公司最近生產的計算機控制EPMA-1600型電子探針，可配置2—5道WDS和1道EDS，試樣最大尺寸為100mm×100mm×50mm(厚)，二次電子圖像解析度為6nm。JEOL公司也生產了計算機控制的JXA-8800電子探針和JXA-8900系列WD／ED綜合顯微分析系統—超電子探針，可裝5道X射線光譜儀和1道X射線能譜儀，元素分析范圍為5B—92U，二次電子圖像解析度為6nm。
Noran公司下屬的Peak公司最近發展了一種嶄新的APeX全參數X射線光譜儀，與傳統的機械聯動機構完全不同，由計算機控制6個獨立的伺服馬達分別調節分光晶體的位置和傾角以及X射線探測器的X、Y坐標和狹縫寬度。配有4塊標準的分光晶體可分析5B(4Be)以上的元素。羅蘭圓半徑隨分析元素而變，可分別為170，180，190和200mm，以獲得最高的計數率，提高了分析精度和靈活性。Noran公司還推出了稱為MAXray的X射線平行束光譜儀，將最新的X光學研究成果——准平行束整體X光透鏡置於試樣上的X射線發射點和分析晶體之間，提高了接收X射線的立體角，比一般WDS的強度提高了50倍左右。可分析100eV—1.8keV能量范圍內的K、L、M線，特別有利於低電壓、低束流分析，對Be、B、C、N、O和F的解析度可高達5—15eV，兼有WDS的高解析度和EDS的高收集效率。這兩種新型X射線光譜儀可望得到廣泛的應用。
3、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡
場發射掃描電鏡得到了很大的發展〔24〕。日立公司推出了冷場發射槍掃描電鏡，Amray公司則生產熱場發射槍掃描電鏡，不僅提高了常規加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。低壓掃描電鏡LVSEM由於可以提高成像的反差，減少甚至消除試樣的充放電現象並減少輻照損傷，因此受到了人們的囑目。JEOL公司的JSM-6000F型場發射超高分辨SEM的分辨本領在加速電壓30kV時達0.6nm，已接近TEM的水平，但試樣必須浸沒入物鏡的強磁場中以減少球差的影響，所以尺寸受到限制，最大為23mm×6mm×3mm(厚)。試樣半浸沒在物鏡磁場中的場發射JSM-6340F型可以觀察大試樣，加速電壓15kV時分辨本領為1.2nm，低壓1kV時為2.5nm。這兩種SEM由於試樣要處在磁場中所以不能觀察磁性材料。使用CF校正場小型物鏡可觀察大試樣的場發射JSM-6600F型分辨本領為2.5nm(1kV時為8nm)。日立公司也供應這幾類產品如S-5000，S-4500和S-4700型。
4、超大試樣室掃描電鏡
德國Visitec捷高公司的超大試樣室Mira型掃描電鏡。被檢物的最大尺寸可為直徑700mm，高600mm，長1400mm，最大重量可達300公斤，真空室長1400，寬1100和高1200mm。分辨本領4nm，加速電壓0.3kV—20kV。是一種新的計算機控制、非破壞性的檢查分析測試裝置，可用於工業產品的生產，質量管理，微機加工和工藝品的檢查研究等。
5、環境掃描電鏡
80年代出現的環境掃描電鏡ESEM，根據需要試樣可處於壓力為1—2600Pa不同氣氛的高氣壓低真空環境中，開辟了新的應用領域。與試樣室內為10-3Pa的常規高真空SEM不同，所以也可稱為低真空掃描電鏡LV-SEM。在這種低真空環境中，絕緣試樣即使在高加速電壓下也不會因出現充、放電現象而無法觀察；潮濕的試樣則可保持其原來的含水自然狀態而不產生形變。因此，ESEM可直接觀察塑料、陶瓷、紙張、岩石、泥土，以及疏鬆而會排放氣體的材料和含水的生物試樣，無需先噴塗導電層或冷凍乾燥處理。1990年美國Electro
Scan公司首先推出了商品ESEM。為了保證試樣室內的高氣壓低真空環境，LV-SEM的真空系統須予以特殊考慮。目前，Amray,Hitachi,JEOL和LEO等公司都有這種產品。試樣室為6—270Pa時，JSM—5600LV—SEM的分辨本領已達5.0nm，自動切換到高真空狀態後便如常規掃描電鏡一樣，分辨本領達3.5nm。中國科學院北京科學儀器研製中心與化工冶金研究所合作，發展KYKY-1500高溫環境掃描電子顯微鏡，試樣最高溫度可達1200℃，最高氣壓為2600Pa；800℃時解析度為60nm，觀察了室溫下的濕玉米澱粉顆粒斷面、食鹽的結晶粒子，以及在50Pa，900℃時鐵礦中的針形Fe\-2O\-3等試樣。
6、掃描電聲顯微鏡
80年代初問世的掃描電聲顯微鏡SEAM，採用了一種新的成像方式：其強度受頻閃調制的電子束在試樣表面掃描，用壓電感測器接收試樣熱、彈性微觀性質變化的電聲信號，經視頻放大後成像。能對試樣的亞表面實現非破壞性的剖面成像。可應用於半導體、金屬和陶瓷材料，電子器件及生物學等領域。中國科學院北京科學儀器研製中心也發展了這種掃描電聲顯微鏡，空間分辨本領為0.2—0.3μm。最近，中國科學院上海硅酸鹽研究所採用數字掃描發生器控制電子束掃描等技術，提高了信噪比，使SEAM的圖像質量得到了很大的改進。
7、測長／缺陷檢測掃描電鏡
SEM不但在科學研究而且在工農業生產中得到了廣泛的應用，特別是電子計算機產業的興起使其得到了很大的發展。目前半導體超大規模集成電路每條線的製造寬度正由0.25μm向0.18μm邁進。作為半導體集成電路生產線上Si片的常規檢測工具，美國Amray公司推出了一種缺陷檢測3800型DRT掃描電鏡，採用了加熱到1800K的ZrO/W陰極肖脫基熱場發射電子槍，具有良好的低加速電壓性能：1kV時分辨本領達4nm，而且電子束流的穩定度優於1%/h、可長期連續工作，對直徑為100，125，150，200mm的Si片，每小時可檢測100個缺陷。日立公司為了克服以往在室溫下工作的冷場發射槍測長掃描電鏡(CD-SEM)因需要進行閃爍處理以去除發射尖上所吸附的氣體分子而經常中斷工作、影響在生產線上應用的缺點，最近也推出了這種ZrO/W陰極熱場發射電子槍的S-8000系列CD-SEM。為了克服熱場發射比冷場發射槍電子能量分散大的缺點，設計了阻滯場電磁物鏡，並改進了二次電子探測器，在加速電壓為800V時分辨本領為5nm，可以每小時20片，每片5個檢測點的速度連續檢測125—200mm直徑的Si〔1,28〕。
8、晶體學取向成像掃描電子顯微術
SEM的另一個新發展方向是以背散射電子衍射圖樣(EBSP)為基礎的晶體學取向成像電子顯微術(OIM)。在SEM上增加一個可將試樣傾動約70度的裝置，CCD探測器和數據處理計算機系統，掃描並接收記錄塊狀試樣表面的背散射電子衍射花樣(背散射菊池花樣)，按試樣各部分不同的晶體取向分類成像來獲得有關晶體結構的信息，可顯示晶粒組織、晶界和裂紋等，也可用於測定織構和晶體取向。可望發展成SEM的一個標准附件。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSL
OIM系統，空間分辨本領已優於0.2μm，比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級，在0.4秒鍾內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OPAL公司的EBSD結晶學分析系統，目前已用於Si片上Al連線的取向分析，以判斷其質量的優劣及可行性。
9、計算機控制掃描電鏡
90年代初，飛利浦公司推出了XL系列掃描電鏡。在保持重要功能的同時，減少了操作的復雜性。儀器完全由計算機軟體控制操作。許多參量(焦距、像散校正和試樣台移動速度等)和調節靈敏度都會根據顯微鏡的工作狀態作自適應變化和耦合，可迅速而准確地改變電鏡的主要參數。EDS完全與XL系統實現了一體化。該公司1995年生產了XL40
FEG等場發射掃描電鏡。日立，JEOL等也先後推出了計算機控制的掃描電鏡。
場發射掃描電鏡的分辨本領最高已達到0.6nm，接近了透射電鏡的水平，並得到了廣泛的應用，但尚不能分辨原子。如何進一步提高掃描電鏡的圖像質量和分辨本領是人們十分關注的問題。Joy DC指出：由於分辨本領受到試樣表面二次電子SE擴散區大小的基本限制，採取適當措施如噴鍍一超薄金屬層或布洛赫波隧穿效應(Bloch Wave Channeling)等來限制SE擴散區的尺寸，二次電子分辨本領可望達到0.2—0.3nm，並進而觀察原子像。現代SEM電子束探針的半高寬FWHM已達0.3nm，場發射電子槍也已具有足夠高的亮度。因此在電子光學方面目前並不構成對SE分辨本領的基本限制。然而，對SEM的機械設計如試樣台的漂移和震動等尚未給予足夠的、如對掃描隧道顯微鏡那樣的重視、二次電子探測器的信噪比和反差還不夠理想，也影響了分辨本領。此外，SE分辨本領的定義和測定方法，SEM圖像處理等也不如透射電子顯微鏡那麼嚴格和完善。這些問題的解決必將進一步提高SEM的圖像質量和分辨本領。
參考文獻
〔1〕 金鶴鳴，姜新力，姚駿恩.中國電子顯微分析儀器市場.見：分析儀器市場調查與分析.北京：海洋出版社，1998.第四章.p113—152.(待出版).
〔2〕 姚駿恩.創造探索微觀世界的有力工具(今年諾貝爾獎物理學獎獲得者的貢獻).中國科技報，1986-12-08(3).
〔3〕 姚駿恩.電子顯微鏡的最近進展.電子顯微學報，1982，1(1)∶1—9.
〔4〕 郭可信.晶體電子顯微學與諾貝爾獎.電子顯微學報，1983，2(2)∶1—5.

⑨ 顯微鏡的目鏡視場數和物鏡的視場數是樣定義的呢有什麼區別

說說我了解的。
1，不錯，視場數確實是國外的說法，即Field Number（簡寫為F.N.）國內從前沒有這個提法，所以1樓的朋友提到在國家標准里查不到。
2，一般來說，F.N.特指目鏡，而非物鏡。所以我們可以在目鏡看到F.N.=22等等，意指目鏡的視場直徑為22mm。
3，對於物鏡，在國外文獻中，一般提到視場，均指其像方視場——實際上就是目鏡的物方視場——有時我們也稱之為「中間像面視場」。所以，從這個意義上講，有的文獻提到顯微鏡往往不加區分的寫出F.N.其實是指中間像面而言。
4，不是說物鏡就沒有視場的限制，而是由於一般設計物鏡也是按著將要匹配的中間像視場來設計的，那麼整個顯微鏡系統物方視場究竟是什麼呢？F.N.除以物鏡放大率是也。這個商值是我們真正通過顯微鏡能觀察的范圍，就是觀察對象的視場直徑。比如，F.N.=22，40×物鏡，那麼實際觀察范圍（物鏡物方視場）=22/40=0.55mm.

另外，需要說明的是，根據我的調查Nikon、Olympus等廠家所謂的視場數(Field Number，F.N.)是日系廠商習慣的說法，而這個像方視場在Zeiss和Leica等德系廠家的說明書中被直接稱為視場（Field of View），這很容易和物鏡的物方視場相混淆。（這一點，我在我的碩士論文里有提及。）並且，很多國內翻譯的文獻，經常會有混淆。更難怪乎樓主會有疑問了，你問對人了。

⑩ 因為市場調查做得好而成功的例子舉一個就行

吉利公司市場調查的成功案例
男人長鬍子，因而要刮鬍子；女人不長鬍子，自然也就不必刮鬍子。然而，美國的吉利公司卻把「刮鬍刀」推銷給女人，居然大獲成功。
吉利公司創建於1901年，其產品因使男人刮鬍子變得方便、舒適、安全而大受歡迎。進入20世紀70年代，吉利公司的銷售額已達20億美元，成為世界著名的跨國公司。然而吉利公司的領導者並不以此滿足，而是想方設法繼續拓展市場，爭取更多用戶。就在1974年,公司提出了面向婦女的專用「刮毛刀」。
這一決策看似荒謬，卻是建立在堅實可靠的 的基礎之上的。
吉利公司先用一年的時間進行了周密的市場調查，發現在美國30歲以上的婦女中，有65%的人為保持美好形象，要定期刮除腿毛和腋毛。這些婦女之中，除使用電動刮鬍刀和脫毛劑之外，主要靠購買各種男用刮鬍刀來滿足此項需要，一年在這方面的花費高達7500萬美元。相比之下，美國婦女一年花在眉筆和眼影上的錢僅有6300萬美元，染發劑5500萬美元。毫無疑問，這是一個極有潛力的市場。
根據 結果，吉利公司精心設計了新產品，它的刀頭部分和男用刮鬍刀並無兩樣，採用一次性使用的雙層刀片，但是刀架則選用了色彩鮮艷的塑料，並將握柄改為弧形以利於婦女使用，握柄上還印壓了一朵雛菊圖案。這樣一來，新產品立即顯示了女性的特點。
為了使雛菊刮毛刀迅速佔領市場，吉利公司還擬定幾種不同的「定位觀念」到消費者之中徵求意見。這些定位觀念包括：突出刮毛刀的「雙刀刮毛」；突出其創造性的「完全適合女性需求」；強調價格的「不到50美分」；以及表明產品使用安全的「不傷玉腿」等等。
最後，公司根據多數婦女的意見，選擇了「不傷玉腿」作為推銷時突出的重點，刊登廣告進行刻意宣傳。結果，雛菊刮毛刀一炮打響，迅速暢銷全球。
這個案例說明，市場調查研究是經營決策的前提，只有充分認識市場，了解市場需求，對市場做出科學的分析判斷，決策才具有針對性，從而拓展市場，使企業興旺發達。